Desarrollo de un protocolo para la aplicación del método de Rietveld y del estándar interno en la caracterización de materiales cerámicos con contenido de amorfos

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dc.contributor.advisorPalacio Espinosa, Claudia Constanza
dc.contributor.authorJaramillo Raquejo, Daniela
dc.coverage.spatialMedellín de: Lat: 06 15 00 N degrees minutes Lat: 6.2500 decimal degrees Long: 075 36 00 W degrees minutes Long: -75.6000 decimal degreeseng
dc.creator.degreeIngeniero Físicospa
dc.creator.emaildaniraquejo@hotmail.comspa
dc.date.accessioned2016-05-18T23:18:47Z
dc.date.available2016-05-18T23:18:47Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractLa técnica de difracción de rayos X de muestras en polvo se ha convertido en una de las herramientas más útiles en el ámbito internacional para el análisis mineralógico cuantitativo de materiales -- Con base en esta técnica se han desarrollado diversos métodos con los cuales no solo es posible obtener información cualitativa y cuantitativa de las fases cristalinas en un material, sino también del contenido de amorfos si el material es semicristalino -- Los métodos de este tipo más difundidos son el método de cuantificación de fases de Rietveld y el método del estándar interno de cuantificación del contenido de amorfos -- En el método de Rietveld se modela todo el perfil de difracción observado a partir de parámetros estructurales de las fases constituyentes, lo que permite refinar parámetros de naturaleza instrumental y cristalográfica, se compara el difractograma calculado y el observado, se reducen las diferencias a través del método de mínimos cuadrados y se obtiene a partir de esto los resultados cuantitativos -- En el método del estándar interno se obtiene un estimativo del contenido de amorfos mezclando con la muestra una cantidad conocida de un estándar interno apropiado y con base en esto, se corrige el contenido de fases en la mezcla cuantificado por el método de Rietveld -- El trabajo consistió en el estudio y evaluación del método de Rietveld y del estándar interno, para lo cual se indagó acerca del efecto en el contenido de amorfos cuantificado al variar el tipo de estándar interno utilizado y su cantidad añadida -- Se estudiaron los factores de distorsión relacionados con la orientación preferencial, la microabsorción y el efecto en los resultados del tipo de parámetros refinados en el modelamiento del perfil de difracción, con el objeto de proponer un protocolo validado de cuantificación del contenido de amorfos en materiales cerámicos con base en los métodos de Rietveld y del estándar interno usando el programa X'Pert High Score Plus® v3.0e de PANalytical®, así como de aplicarlo en la caracterización de ciertos materiales seleccionadosspa
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10784/8531
dc.language.isospaspa
dc.publisherUniversidad EAFITspa
dc.publisher.departmentEscuela de Ciencias. Ciencias Básicasspa
dc.publisher.programIngeniería físicaspa
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
dc.rights.localAcceso abiertospa
dc.subjectMétodo de Rietveldspa
dc.subjectEstimación de incertidumbrespa
dc.subjectX'Pert HighScore Plusspa
dc.subject.keywordX-rays - diffractionspa
dc.subject.keywordCrystallographyspa
dc.subject.keywordLeast squaresspa
dc.subject.keywordCeramic materialsspa
dc.subject.lembDIFRACCIÓN DE RAYOS Xspa
dc.subject.lembCRISTALOGRAFÍAspa
dc.subject.lembMÍNIMOS CUADRADOSspa
dc.subject.lembMATERIALES CERÁMICOSspa
dc.titleDesarrollo de un protocolo para la aplicación del método de Rietveld y del estándar interno en la caracterización de materiales cerámicos con contenido de amorfosspa
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesis
dc.typebachelorThesiseng
dc.type.hasVersionacceptedVersioneng
dc.type.localTrabajo de gradospa

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