Caracterización y calibración de un instrumento AFM utilizado para producir nanodeformación en superficies altamente rígidas
dc.citation.journalTitle | Revista Colombiana De Fisica | |
dc.contributor.author | Arroyave, Mauricio | |
dc.contributor.department | Universidad EAFIT. Departamento de Ciencias Básicas | |
dc.contributor.researchgroup | Electromagnetismo Aplicado (Gema) | spa |
dc.date.accessioned | 2021-03-23T21:39:35Z | |
dc.date.available | 2021-03-23T21:39:35Z | |
dc.date.issued | 2006-02-01 | |
dc.identifier | https://eafit.fundanetsuite.com/Publicaciones/ProdCientif/PublicacionFrw.aspx?id=12599 | |
dc.identifier.issn | 3415732 | spa |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10784/27184 | |
dc.source | Revista Colombiana De Fisica | |
dc.title | Caracterización y calibración de un instrumento AFM utilizado para producir nanodeformación en superficies altamente rígidas | spa |
dc.type | article | eng |
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dc.type.local | Artículo | spa |