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Investigación
Escuela de Ciencias Aplicadas e Ingeniería
Electromagnetismo Aplicado (Gema)
Artículos (Gema)
Caracterización y calibración de un instrumento AFM utilizado para producir nanodeformación en superficies altamente rígidas
Caracterización y calibración de un instrumento AFM utilizado para producir nanodeformación en superficies altamente rígidas
Fecha
2006-02-01
Autores
Arroyave, Mauricio
Título de la revista
ISSN de la revista
Título del volumen
Editor
Resumen
Descripción
Palabras clave
Citación
URI
http://hdl.handle.net/10784/27184
Colecciones
Artículos (Gema)
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