Nanoindentation based on force spectroscopy with an atomic force

dc.citation.epage98
dc.citation.issue8
dc.citation.journalAbbreviatedTitleing.cienc.eng
dc.citation.journalTitleIngeniería y Cienciaeng
dc.citation.spage85
dc.citation.volume4
dc.contributor.affiliationUniversidad EAFITspa
dc.contributor.authorArroyave Franco, Mauriciospa
dc.coverage.spatialMedellín de: Lat: 06 15 00 N degrees minutes Lat: 6.2500 decimal degrees Long: 075 36 00 W degrees minutes Long: -75.6000 decimal degreeseng
dc.date2008-12-01
dc.date.accessioned2019-11-22T19:10:47Z
dc.date.available2019-11-22T19:10:47Z
dc.date.issued2008-12-01
dc.descriptionAn implementation of the method for surface indentation based on Atomic Force Microscopy (AFM), is presented. The implementation was done using the Force Spectroscopy (FS) usually enabled on this instruments which allow vertical movement of the AFM tip without lateral displacement. Determination of the sensitive factor of the AFM cantilever was necessary to know the applied forces in the indentation process. Force versus depth curves similar to Depth–Sensing Indentation (DSI) curves were obtained however these cannot be used for mechanical diagnostics with Oliver & Pharr method. Indentations about 1 nm and 50 nm of depth on polycrystalline Silicon and 6261 Aluminium alloy respectively were produced. These open important applicationsin materials nanotechnology.eng
dc.descriptionSe presenta una implementación del método para el sangrado de superficie basado en Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). La implementación se realizó utilizando la espectroscopía de fuerza (FS) generalmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplazamiento lateral. La determinación del factor sensible del voladizo AFM fue necesaria para conocer las fuerzas aplicadas en el proceso de sangría. Se obtuvieron curvas de fuerza versus profundidad similares a las curvas de sangría de detección de profundidad (DSI), sin embargo, estas no pueden usarse para diagnósticos mecánicos con el método de Oliver y Pharr. Se produjeron hendiduras de aproximadamente 1 nm y 50 nm de profundidad sobre silicio policristalino y aleación de aluminio 6261, respectivamente. Estas abren importantes aplicaciones en materiales nanotecnológicos.spa
dc.formatapplication/pdf
dc.identifier.issn2256-4314
dc.identifier.issn1794-9165
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10784/14521
dc.language.isospaspa
dc.publisherUniversidad EAFITspa
dc.relation.isversionofhttp://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia/article/view/216
dc.relation.urihttp://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia/article/view/216
dc.rightsCopyright (c) 2008 Mauricio Arroyave Francoeng
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
dc.rights.localAcceso abiertospa
dc.sourceinstname:Universidad EAFIT
dc.sourcereponame:Repositorio Institucional Universidad EAFIT
dc.sourceIngeniería y Ciencia; Vol 4, No 8 (2008)spa
dc.subject.keywordAtomic Forceeng
dc.subject.keywordForce Spectroscopyeng
dc.subject.keywordNanoindentationeng
dc.subject.keywordFuerza Atómicaspa
dc.subject.keywordEspectroscopía De Fuerzaspa
dc.subject.keywordNanoindentaciónspa
dc.titleNanoindentation based on force spectroscopy with an atomic forceeng
dc.titleNanoindentación basada en espectroscopia de fuerzas con un microscopio de fuerza atómicaspa
dc.typearticleeng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleeng
dc.typepublishedVersioneng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioneng
dc.type.localArtículospa

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