Estadísticas de Control y caracterización de un dispositivo de posicionamiento X-Y con desplazamientos micrométricos para una posterior aplicación en procesos de microfabricación
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Control y caracterización de un dispositivo de posicionamiento X-Y con desplazamientos micrométricos para una posterior aplicación en procesos de microfabricación | 6 |
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Sebastian_GuzmanDiaz_2009.pdf(legacy) | 1 |
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China | 1 |
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Medellín | 4 |
Beijing | 1 |