La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias

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dc.citation.epage83
dc.citation.issue151
dc.citation.journalTitleRevista Universidad EAFITeng
dc.citation.spage67
dc.citation.volume44
dc.contributor.affiliationUniversidad EAFITspa
dc.contributor.authorArroyave Franco, Mauriciosp
dc.coverage.spatialMedellín de: Lat: 06 15 00 N degrees minutes Lat: 6.2500 decimal degrees Long: 075 36 00 W degrees minutes Long: -75.6000 decimal degrees
dc.date2008
dc.date.accessioned2020-06-12T16:46:28Z
dc.date.available2020-06-12T16:46:28Z
dc.date.issued2008
dc.descriptionLa última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica. Las nuevas tecnologías basadas en nanociencias, se han apoyado en estos instrumentos para obtener imágenes aumentadas de unos pocos grupos de átomos, cuyo orden obedece a la naturaleza misma o a la manipulación deliberada, a la cual se ha accedido gracias al desarrollo de la nanotecnología. En este trabajo se presenta una descripción básica de los principios de funcionamiento, el panorama general de las aplicaciones de la técnica SPM en el análisis de materiales y algunos resultados obtenidos sobre diferentes tipos de muestras.spa
dc.formatapplication/pdf
dc.identifier.issn0120-341X
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10784/16743
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad EAFITspa
dc.relation.isversionofhttp://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/revista-universidad-eafit/article/view/131/126
dc.relation.urihttp://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/revista-universidad-eafit/article/view/131/126
dc.rightsCopyright © 2008 Mauricio Arroyave Francoeng
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
dc.rights.localAcceso abiertospa
dc.sourceRevista Universidad EAFIT, Vol. 44, No. 151 (2008)spa
dc.subject.keywordmicroscopíaspa
dc.subject.keywordmaterialesspa
dc.subject.keywordnanocienciasspa
dc.subject.keywordfuerza atómicaspa
dc.subject.keywordbarrido túnelspa
dc.subject.keywordfuerza magnéticaspa
dc.titleLa microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanocienciasspa
dc.typearticleeng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleeng
dc.typepublishedVersioneng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioneng
dc.type.localArtículospa

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Revista Universidad EAFIT, Vol. 44, Núm. 151 (2008)