Obtención de estructuras de relieve en materiales de registro de haluros de plata

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dc.citation.journalTitleÓPTICA PURA Y APLICADAeng
dc.contributor.authorGiraldo, L.Mspa
dc.contributor.authorVelásquez, D.spa
dc.contributor.authorGiraldo, L.M
dc.contributor.authorVelásquez, D.
dc.contributor.departmentUniversidad EAFIT. Departamento de Ciencias Básicasspa
dc.contributor.researchgroupÓptica Aplicadaspa
dc.date.accessioned2014-03-07T20:59:54Z
dc.date.available2014-03-07T20:59:54Z
dc.date.issued2013-01
dc.descriptionSe registraron rejillas de difracción de transmisión en película AGFA 8E75, tratadas químicamente bajo procesos convencionales con D-19 + ferrocianuro de potasio y una técnica de procesamiento químico desarrollada para película PE-2, para la obtención de franjas con relieve. Las estructuras holográficas fueron medidas topográficamente mediante la técnica de microscopía de fuerza atómica en modo no contacto (AFM-NC) y se observan cambios en las profundidades bajo variaciones en las exposiciones y la fotoquímica utilizada. Se encuentra que el mejor rendimiento en términos de profundidad de relieve obtenido está dado por un proceso tradicional con el cual se alcanzaron profundidades entre 0,15 y 0,3 m para densidades ópticas y frecuencias espaciales bajas. En este trabajo evaluamos la posibilidad de obtener matrices de relieve en haluros de plata para procesos de réplica de hologramas.spa
dc.description.abstractDiffraction transmission gratings were recorded in AGFA-8E75 film, chemically treated under processes with D-19 + potassium ferrocyanide and a chemical processing technique proposed for PE-2 film to obtain embossed stripes. Holographic structures were measured topographically by the technique of atomic force microscopy in noncontact mode (NC-AFM) and we observe changes in the depths under variations in exposures and used photochemistry. We find that the best performance in terms of relief depth obtained is given by the conventional process which reached depths between 0.15 m and 0.3 m for spatial frequencies of the order of 400eng
dc.description.abstractSe registraron rejillas de difracción de transmisión en película AGFA 8E75, tratadas químicamente bajo procesos convencionales con D-19 + ferrocianuro de potasio y una técnica de procesamiento químico desarrollada para película PE-2, para la obtención de franjas con relieve. Las estructuras holográficas fueron medidas topográficamente mediante la técnica de microscopía de fuerza atómica en modo no contacto (AFM-NC) y se observan cambios en las profundidades bajo variaciones en las exposiciones y la fotoquímica utilizada. Se encuentra que el mejor rendimiento en términos de profundidad de relieve obtenido está dado por un proceso tradicional con el cual se alcanzaron profundidades entre 0,15 y 0,3 m para densidades ópticas y frecuencias espaciales bajas. En este trabajo evaluamos la posibilidad de obtener matrices de relieve en haluros de plata para procesos de réplica de hologramas.spa
dc.description.sponsorshipEAFIT Universityspa
dc.identifier.citationGiraldo L, Velasquez D, "Obtención de estructuras de relieve en materiales de registro de haluros de plata" Opt. Pura Ap. . 46 (4) 363-368 (2013) http://www.sedoptica.es/Menu_Volumenes/Pdfs/OPA46-4-363.pdfspa
dc.identifier.issn0030-3917
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10784/1367
dc.language.isospaspa
dc.language.isospaeng
dc.publisherSociedad Española de Óptica
dc.publisher.departmentEscuela de Ciencias y Humanidadesspa
dc.publisher.programGrupo de Investigación de Óptica Aplicadaspa
dc.relation.ispartofÓPTICA PURA Y APLICADA.46 (4) 363-368 (2013)spa
dc.relation.urihttp://dx.doi.org/10.7149/OPA.46.4.363
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
dc.rights.localAcceso abiertospa
dc.subjectMicroscopía de Fuerza Atómica (AFM)spa
dc.subjectRejillas Holográficasspa
dc.subjectRedes de Braggspa
dc.subjectFotoquímicaspa
dc.subjectHaluros de Plataspa
dc.subject.keywordAtomic Force Microscopy (AFM)eng
dc.subject.keywordHolographic Gratingseng
dc.subject.keywordBragg Gratingseng
dc.subject.keywordPhotochemical Silver Halideseng
dc.subject.keywordMicroscopía de Fuerza Atómica (AFM)spa
dc.subject.keywordRejillas Holográficasspa
dc.subject.keywordRedes de Braggspa
dc.subject.keywordFotoquímicaspa
dc.subject.keywordHaluros de Plataspa
dc.titleObtención de estructuras de relieve en materiales de registro de haluros de plataspa
dc.title.alternativeObtaining relief structures in silver halide materialsspa
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleeng
dc.typearticleeng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioneng
dc.typepublishedVersioneng
dc.type.localArtículospa

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