Control y caracterización de un dispositivo de posicionamiento X-Y con desplazamientos micrométricos para una posterior aplicación en procesos de microfabricación

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Date
2009
Author(s)
Guzmán Díaz, Sebastián
Advisor(s) / Researcher(s)
Jaramillo Ocampo, Juan Manuel
Velásquez López, Alejandro
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Metadata
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URI
http://hdl.handle.net/10784/4287
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